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失效分析檢測簡要介紹

更新時間:2023-07-13  |  點(diǎn)擊率:839

什么是失效分析?失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)、改進(jìn),產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。其方法分為有損分析,無損分析,物理分析,化學(xué)分析等?!?/p>


為什么要進(jìn)行失效分析?失效分析檢測目的:


  1、明確潛在失效機(jī)理、查找失效根本原因、確定失效薄弱環(huán)節(jié),為改進(jìn)產(chǎn)品設(shè)計,選材等提供依據(jù)。


  2、通過失效機(jī)理分析還可以預(yù)測可靠性,起到技術(shù)反饋?zhàn)饔谩?/p>


  3、在提高產(chǎn)品質(zhì)量、技術(shù)開發(fā)、產(chǎn)品改進(jìn)、產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。


廣電計量失效分析檢測能能力


  廣電計量集成電路測試與分析事業(yè)部是國內(nèi)的半導(dǎo)體質(zhì)量評價與可靠性提升方案技術(shù)服務(wù)提供方。廣電計量投入300多臺檢測分析設(shè)備,形成以博士、專家為核心的人才隊(duì)伍,打造8個專項(xiàng)實(shí)驗(yàn)室及1個功能安全認(rèn)證中心,為裝備制造、汽車、電力電子與新能源、5G通信、光電器件與傳感器、軌道交通與材料、晶圓廠等領(lǐng)域企業(yè)提供專業(yè)的失效分析、晶圓級制造工藝分析、元器件篩選、可靠性測試、工藝質(zhì)量評價、產(chǎn)品認(rèn)證、壽命評估等服務(wù),幫助企業(yè)提升電子產(chǎn)品質(zhì)量與可靠性。


專項(xiàng)實(shí)驗(yàn)室及認(rèn)證中心

重點(diǎn)能力

AEC-Q車規(guī)元器件
認(rèn)證實(shí)驗(yàn)室

AEC-Q100/101/102/103/104/200全項(xiàng)目認(rèn)證
光、電、熱、機(jī)械全參數(shù)測試
片級試驗(yàn)驗(yàn)證與失效分析

IGBT及第三代
半導(dǎo)體實(shí)驗(yàn)室

功率器件逆向工程與案例分析
GBT及第三代半導(dǎo)體器件全參數(shù)測試
AQG324功率器件試驗(yàn)認(rèn)證

晶圓級工藝及材料
分析實(shí)驗(yàn)室

4nm及以上芯片制程晶圓級制造工藝分析
半導(dǎo)體器件納米級微結(jié)構(gòu)及微區(qū)成分解析
芯片等半導(dǎo)體器件顯微失效分析

集成電路測試

工程實(shí)驗(yàn)室

集成電路工程化測試開發(fā)
集成電路可靠性測試開發(fā)
集成電路小批量量產(chǎn)測試

集成電路篩選

與量產(chǎn)實(shí)驗(yàn)室

集成電路CP/FT/量產(chǎn)測試開發(fā)和導(dǎo)入
元器件一篩/二篩
集成電路國產(chǎn)化鑒別與結(jié)構(gòu)分析

封裝組裝及DPA實(shí)驗(yàn)室

電子元器件破壞性物理分析
元器件質(zhì)量管控及鑒定
板級制造工藝評價與改進(jìn)

電子電氣檢測與驗(yàn)證實(shí)驗(yàn)室

電子電氣功能、性能測試
板級工藝質(zhì)量驗(yàn)證與故障定位
5G產(chǎn)品測試與可靠性驗(yàn)證

服役評估實(shí)驗(yàn)室

器件、零部件壽命評估
材料老化機(jī)理研究
國產(chǎn)化驗(yàn)證

功能安全認(rèn)證中心

ISO26262功能安全ASFP培訓(xùn)
ISO26262功能安全流程(管理體系)技術(shù)服務(wù)
IS026262功能安全技術(shù)服務(wù)
ISO26262功能安全硬件、軟件測試
IS026262功能安全認(rèn)證審核


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