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芯片失效分析檢測是判斷芯片失效性質(zhì)、分析失效原因、研究預防措施的技術工作。其目的在于提高芯片品質(zhì)，改善生產(chǎn)方案，從而保障產(chǎn)品品質(zhì)。

AEC-Q認證服務是專門針對汽車電子零部件設計的一系列質(zhì)量評估與可靠性測試服務。它旨在確保汽車電子部件能夠在各種復雜多變的環(huán)境下穩(wěn)定工作，為汽車的安全性和性能提供堅實的保障。

車規(guī)電子元器件認證是對用于汽車電子領域的元器件進行的一系列嚴格測試和認證，以確保它們能在汽車的各種復雜環(huán)境中穩(wěn)定、可靠地運行。

半導體元器件失效分析檢測采用光學傳感器、紅外線探測器或顯微鏡等技術，通過觀察和分析半導體元器件表面的光學特征，來識別缺陷、污染或結構問題。

光電熱機械全參數(shù)測試 光電器件：廣電計量光、電、熱、機械全參數(shù)測試服務可與企業(yè)合作，深入產(chǎn)品研發(fā)階段，有效為產(chǎn)品研發(fā)和定型提供測試保障。

傳感器液體冷熱沖擊試驗：液態(tài)冷熱沖擊試驗主要用于兩個裝置內(nèi)部的液體冷熱交替循環(huán)試驗。冷熱沖擊試驗是評價散熱器抗溫度交變循環(huán)能力的強化試驗，為冷卻器的設計提供試驗數(shù)據(jù)，也是驗證冷熱交變溫度下非金屬-金屬連接件的可靠性，對保證換熱器質(zhì)量和提高其可靠性具有重要作用。廣電計量可提供傳感器液態(tài)沖擊試驗服務。

光電子器件LED失效分析：隨著LED應用的飛速發(fā)展，其失效問題也隨之表現(xiàn)的尤為突出，特別是LED隨機性不點燈或性不點燈，以及燒燈等，是困擾產(chǎn)品可靠性壽命的關鍵問題。廣電計量通過對LED內(nèi)部的微觀分析，確認其結構上的失效特征，可以改進設計、制造、工藝及應用上的潛在或已存在的失效風險，提高產(chǎn)品的可靠性及壽命。

光電器件 電磁繼電器電性能測試：繼電器是一種自動控制開關，當其輸入端的物理量達到某一量值時，其輸出端的狀態(tài)發(fā)生階躍式變化。繼電器廣泛應用于遙控、遙測、通訊、自動控制、機電一體化及電力電子設備中，是最重要的控制元件之一。廣電計量提供電磁繼電器電性能測試服務，為實際使用發(fā)生失效的繼電器進行宏觀及微觀的分析，確定其失效模式及其失效的機理。