服務(wù)內(nèi)容

5G的商業(yè)化進(jìn)程中，裝備、航空、自動(dòng)化、汽車(chē)、電子電器儀表組件、PCB板、IC芯片等行業(yè)與領(lǐng)域?qū)ζ骷目煽啃蕴岢隽烁叩囊蟆鹘y(tǒng)的氣-氣溫沖已逐漸難以滿足對(duì)產(chǎn)品的可靠性驗(yàn)證，行業(yè)需要轉(zhuǎn)換時(shí)間更少、溫度變化更為劇烈的嚴(yán)苛方法，以篩選出性能可靠的產(chǎn)品。廣電計(jì)量積累了大量氟油液態(tài)溫度沖擊認(rèn)證試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)，可開(kāi)展氟油介質(zhì)的液態(tài)溫沖試驗(yàn)，轉(zhuǎn)換時(shí)間不超過(guò)10s，溫度范圍為-70℃至150℃。能夠覆蓋JEDEC、MIL、GB等標(biāo)準(zhǔn)。

服務(wù)范圍

廣電計(jì)量氟油液態(tài)溫度沖擊認(rèn)證試驗(yàn)服務(wù)范圍：電子電氣產(chǎn)品，如：車(chē)載模組、裝備電子、IC芯片等

參照標(biāo)準(zhǔn)

JESD22 B106、MIL-STD-202 Method 107、GJB128A: 1056等

測(cè)試周期

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)、客戶要求的試驗(yàn)條件來(lái)定（按小時(shí)計(jì)算）

檢測(cè)資質(zhì)

CNAS認(rèn)可

服務(wù)背景

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電子元器件產(chǎn)品在研制、生產(chǎn)等過(guò)程中會(huì)因各種原因產(chǎn)生缺陷，而產(chǎn)品的可靠性工程可通過(guò)功能性能驗(yàn)證、環(huán)境應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力等試驗(yàn)排查或激發(fā)產(chǎn)品的某些潛在缺陷，避免后續(xù)使用中出現(xiàn)不可逆轉(zhuǎn)的失效。其中，溫度沖擊試驗(yàn)（Temperature ramp >10℃/min）能夠使電子元器件在溫度的快速變化中，暴露出器件在弱于溫度變化條件下會(huì)出現(xiàn)的潛在缺陷，使產(chǎn)品的可靠性更接近實(shí)際需要，從而保證和提高電子產(chǎn)品的可靠性。

我們的優(yōu)勢(shì)

1、服務(wù)覆蓋全國(guó)：廣電計(jì)量是一家全國(guó)布局、綜合性的國(guó)有第三方計(jì)量檢測(cè)機(jī)構(gòu)，技術(shù)服務(wù)保障網(wǎng)絡(luò)覆蓋全國(guó)。

2、資源配置完善：廣電計(jì)量聚焦集成電路失效分析技術(shù)，擁有業(yè)界專(zhuān)家團(tuán)隊(duì)及先進(jìn)的失效分析系統(tǒng)設(shè)備。（引進(jìn)日本HITACHI的液冷式溫度沖擊設(shè)備）

3、提供定制化服務(wù)：憑借齊全的檢測(cè)能力和多行業(yè)豐富的服務(wù)經(jīng)驗(yàn)，廣電計(jì)量可針對(duì)客?的研發(fā)需求，提供不同應(yīng)?下的失效分析咨詢、協(xié)助客戶開(kāi)展實(shí)驗(yàn)規(guī)劃、以及分析測(cè)試服務(wù)，如配合客戶開(kāi)展NPI階段驗(yàn)證，在量產(chǎn)階段(MP)協(xié)助客戶完成批次性失效分析。

案例推薦

廣電計(jì)量引進(jìn)日本HITACHI的液冷式溫度沖擊設(shè)備，以熱媒液（氟油）作為傳遞溫度的介質(zhì)。該液體具備熱穩(wěn)定性、高導(dǎo)熱能力、不易揮發(fā)、無(wú)色無(wú)毒、化學(xué)惰性等性能，能夠有效解決溫度沖擊過(guò)程中可能存在溫度不均勻的問(wèn)題，且溫度區(qū)間相較于氣體媒介的更大，對(duì)試驗(yàn)產(chǎn)品內(nèi)部能實(shí)現(xiàn)更充分的溫度擴(kuò)散，能夠篩選出性能可靠性更高的產(chǎn)品。