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AEC-Q104認(rèn)證測試,車規(guī)級認(rèn)證

簡要描述：廣電計量AEC-Q104認(rèn)證測試,車規(guī)級認(rèn)證能力提供全套的測試認(rèn)證服務(wù)，通過使用各種測試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)產(chǎn)品的失效現(xiàn)象，分辨其失效模式或機理，確定其最終原因，提出改進(jìn)設(shè)計和制造工藝的建議，來消除失效并防止失效的再次發(fā)生，提高產(chǎn)品的可靠性。

廠商性質(zhì)：工程商
更新時間：2024-11-06
訪問次數(shù)：996

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詳細(xì)介紹

品牌	廣電計量	服務(wù)區(qū)域	全國
服務(wù)周期	2-3個月	服務(wù)資質(zhì)	CMA/CNAS
服務(wù)費用	視具體項目而定

服務(wù)背景

AEC-Q104認(rèn)證測試,車規(guī)級認(rèn)證是基于失效機制的車用多芯片組件（MCM）應(yīng)力測試認(rèn)證規(guī)范。MCM多芯片模組規(guī)范解決了困擾IC設(shè)計廠商與Tier1汽車模塊商在MCM、系統(tǒng)構(gòu)裝(System In Package, SIP)、堆疊式封裝(Stacked Chip)等復(fù)雜多芯片型態(tài)應(yīng)該依循IC，還是模塊規(guī)范的難題。更是在車用行業(yè)規(guī)范中，定義車用板階可靠性測試項目(Board Level Reliability, BLR)的規(guī)范。

產(chǎn)品范圍

AEC-Q104認(rèn)證測試,車規(guī)級認(rèn)證——車用多芯片組件

測試項目

測試項目分組

● A組：加速環(huán)境應(yīng)力測試（6項）

● B組：加速壽命模擬測試（3項）

● C組：封裝組裝完整性測試（8項）

● D組：晶圓制造可靠度測試（5項）

● E組：電氣特性確認(rèn)測試（10項）

● F組：瑕疵篩選監(jiān)控測試（2項）

● G組：空封器件完整性測試（8項）

● H組：模塊專項測試（7項）

測試周期

2-3個月，提供全面的認(rèn)證計劃、測試等服務(wù)

測試流程

常見問題

Q：AEC-Q104與其他AECQ認(rèn)證服務(wù)之間的關(guān)系？

A：AEC-Q104規(guī)范中，共分為A-H八大系列。其中，一大原則，在于MCM上使用的所有組件，包括電阻電容電感等被動組件、二極管離散組件、以及IC本身，在組合前若有通過AEC-Q100、AEC-Q101或AEC-Q200，MCM產(chǎn)品只需進(jìn)行AEC-Q104H內(nèi)僅7項的測試，包括4項可靠性測試:TCT(溫度循環(huán))、Drop(落下)、LowTemperature Storage Life(LTSL)、Start Up &Temperature Steps(STEP)；以及3項失效類檢驗:X-Ray、Acoustic Microscopy(AM)、Destructive Physical(DPA)；

若MCM上的組件未先通過AEC-Q100、AEC-Q101與AEC-Q200，那必須從AEC-Q104的A-H八大測項共49項目中，依據(jù)產(chǎn)品應(yīng)用，決定驗證項目，驗證項目會變得比較多。

AEC-Q試驗實例