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簡要描述:AD/DA轉換器電性能測試 光電器件:AD/DA轉換器是將數(shù)字量轉換為模擬量的電路,主要用于數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)、自動測試設備、醫(yī)療信息處理、電視信號的數(shù)字化、圖像信號的處理和識別、數(shù)字通信和語音信息處理等。對AD/DA轉換器進行有效的檢測,是提高企業(yè)產(chǎn)品質量的保證。越復雜的生產(chǎn)場景對AD/DA轉換器芯片的可靠性越高,電性能測試是檢驗AD/D啊A芯片功能性能可靠性的主要手段。
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品牌 | 廣電計量 |
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服務內容
廣電計量目前已實現(xiàn)12位AD/DA轉換器芯片電性能測試程序的開發(fā)。
服務范圍
AD/DA轉換器電性能測試 光電器件:數(shù)據(jù)傳輸系統(tǒng)、自動測試設備、醫(yī)療信息處理、電視信號的數(shù)字化、圖像信號的處理和識別、數(shù)字通信和語音信息處理等將數(shù)字量和模擬量互相轉換電路的儀器設備。
檢測標準
SJ 20961-2006 集成電路A/D和D/A轉換器測試方法的基本原理。
檢測項目
AD/DA轉換器電性能測試 光電器件:AD/DA轉換器芯片電性能測試及程序開發(fā),其中測試技術指標:
(1)A/D轉換器參數(shù)符號及名稱
(2)D/A轉換器參數(shù)符號及名稱
相關資質
CMA、CNAS
測試周期
開發(fā)周期:4-8周;常規(guī)測試周期:3-5個工作日。
服務背景
在現(xiàn)代工業(yè)化社會中,工業(yè)的生產(chǎn)場景涉及到方方面面與計算機協(xié)同生產(chǎn)的需求。在數(shù)字系統(tǒng)的應用中,通常要將一些被測量的連續(xù)變化的物理量通過傳感器送到數(shù)字系統(tǒng)進行加工處理,經(jīng)過處理獲得的輸出數(shù)據(jù)又要送回物理系統(tǒng),對系統(tǒng)物理量進行調節(jié)和控制。
在實際生產(chǎn)場景中,是由設備的傳感器對生產(chǎn)過程中產(chǎn)生的電壓、電流、壓力、溫度、位移、流量等的實時改變進行記錄并轉換成模擬電信號。傳感器輸出的模擬電信號需轉換成數(shù)字信號(計算機內部需要的離散數(shù)字量,即二進制數(shù)、十進制數(shù)等),數(shù)字系統(tǒng)才能對模擬信號進行處理。這種模擬量到數(shù)字量的轉換稱為模-數(shù)(A/D)轉換。處理后獲得的數(shù)字量有時又需轉換成模擬量返回到實際生產(chǎn)場景中指引設備進行后續(xù)工作,這種轉換稱為數(shù)-模(D/A)變換。
A/D轉換器(Analog to Digital Converter簡稱為ADC)和D/A轉換器(Digital to Analog Converter簡稱為DAC)是數(shù)字系統(tǒng)和模擬系統(tǒng)的接口電路。通過A/D和D/A兩個方向的數(shù)據(jù)轉換,即可實現(xiàn)生產(chǎn)設備與計算機的協(xié)同生產(chǎn),如汽車流水線上的機械手和雷達。
越復雜的生產(chǎn)場景對AD/DA轉換器芯片的可靠性越高,電性能測試是檢驗AD/DA芯片功能性能可靠性的主要手段。
我們的優(yōu)勢
廣電計量聚焦集成電路失效分析技術,擁有業(yè)界的專家團隊及先進的失效分析設備,可為客戶提供完整的失效分析檢測服務,幫助制造商快速準確地定位失效,找到失效根源。同時,我們可針對客?的研發(fā)需求,提供不同應?下的失效分析咨詢、協(xié)助客戶開展實驗規(guī)劃、以及分析測試服務,如配合客戶開展NPI階段驗證,在量產(chǎn)階段(MP)協(xié)助客戶完成批次性失效分析。
常見問題
Q:AD/DA轉換器電性能測試常見誤差有哪些?
A:零點誤差、增益誤差、差分非線性誤差及積分非線性誤差。
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